树叶分析仪 SS1

光合作用便携式

- 测量树冠的入射和透射 PAR - 直接显示叶面积指数 (LAI) - 可在阴天和晴天条件下使用 - 久经考验的研究级冠层分析仪 - 表型应用的理想之选 SunScan 植物冠层分析仪系统通过实地测量作物冠层中的光合有效辐射 (PAR)，提供有关叶面积指数 (LAI) 和生物量生产的宝贵信息。 SunScan 植物冠层分析仪经过优化，可测量低规则冠层（如大多数农作物）的 PAR。1 米探头可对大面积区域进行快速空间平均，并绘制葡萄园和果园等非均匀作物的 PAR 图。有了独特的 BF5 参考 PAR 日照传感器，SunScan 植物冠层分析仪可以在大多数天气条件下使用。 易于使用 SunScan 植物冠层分析仪探头由 64 个 PAR 传感器组成，嵌入 1 米长的探头中。每次读数时，都会扫描所有传感器，并通过 RS232 接口将测量结果发送到 RPDA3 型手持 PDA 上。可读取探头的平均 PAR 水平，也可存储所有 64 个单独的读数，以便绘制更完整的 PAR 地图或进行线性横断。可以选择自动记录，以获取一段时间内某个固定点的读数。如果连接到数据记录器，探头可作为线性量子传感器（也称为线量子传感器）使用。